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    產品名稱:

    全反射X熒光

    產品型號: HORIZON
    更新時間: 2023-06-25
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    生產地址:
    全反射X熒光分析原理是基于X熒光能譜法,但與X射線能譜形成對比的是,傳統能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級X光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生,同時減小了載體的背景和噪聲,亦可減少樣品使用量。
    • 詳細內容
      如果n1>n2,則介質1相對于介質2為光密介質,介質2相對于介質1為光疏介質。對于X射線,一般固體與空氣相比都是光疏介質。所以,如果介質1是空氣,那么α1>α2,即折射線會偏向界面。如果α1足夠小,并使α2=0,此時的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當α1<α臨界時,界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質1中,這就是全反射現象。
     
      HORIZON 配備了12位樣品臺自動測量,創新光學編碼器的步進電機,角度測量,采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。廣泛應用在環境分析、制藥分析、法醫學、化學純度分析、油品分析、染料分析、半導體材料及核材料工業分析領域。
     
      全反射X熒光光譜儀主要特點
     
      1、單內標校正,有效簡化了定量分析,無基體影響;
     
      2、對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析;
     
      3、多元素實時分析,可進行痕量和超痕量分析;
     
      4、不受樣品的類型和不同應用需求影響;
     
      5、液體或固體樣品的微量分析,分析所需樣品量小;
     
      6、優良的檢出限水平,元素分析范圍從鈉覆蓋到钚;
     
      7、動態線性范圍;
     
      8、無需任何化學前處理,無記憶效應;
     
      9、非破壞性分析,運行成本低廉。
     

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